射頻及毫米波應用(RF & mmW

旺矽釋義

晶圓級射頻及毫米波(RF & mmW)特性描述是射頻及毫米波積體電路開發、設計除錯,以及高效能半導體元件建模的關鍵部分。由於晶圓級 RF 測試儀器(如:向量網路分析儀、升頻器、阻抗調諧器、耦合器、Bias-Ts 及許多其他系統元件)之架設整合具高複雜性及需求特殊性,旺矽特為此應用量測的精準度,投入相當多心力。

量測需求

射頻量測需求主要涵蓋 RF 功率及 RF 雜訊特性描述之大小訊號量測、S 參數、訊號源、負載拉移阻抗匹配等 。這些應用皆挑戰探針台系統的機械穩定性、最短傳輸路徑、量測最佳方向性、長時間於不同類型金屬待測物上重複且高一致性的點測能力、以及是否可精準校正至待測物端之能力。

旺矽解決方案

旺矽穩固的工程探針台系統是您在射頻及毫米波量測應用的最佳選擇。精巧的底座尺寸完全符合 RF 功率及雜訊特性描述系統的整合需求。精密且無後座力的 RF 微定位器MicroPositioners,提供準確定位 RF 探針的能力。

精密設計的 TS150-THZ 探針台系統搭配高端毫米波 MP80 微定位器(MicroPositioner)、以及兼具高倍率及長工作距離的 MPI SZ10 MZ12 光學顯微鏡,盡可能地縮短了毫米波/次毫米波網路分析儀升頻器與待測物之間的距離,除實現最短訊號傳輸路徑,更確保最佳的量測方向性及精準度。

旺矽 TITAN™ 射頻探針系列,採專利的探針葉片設計及微機電製程製造,提供優異可視角、低接觸電阻,甚至在較難探測之鋁材上亦能展現極高的接觸一致性。

領先業界的校正軟體 QAlibria® 及經過驗證之校正件Calibration Substrates),實現業界標準及先進的校正方法,提供 RF 計量校正的解決方案。