Probing Systems | Device Characterization | High Power Device Tests | Probing Systems | Probing System for Device Characterization | mmW Measurement | Device Characterization

元件特性描述

高功率

射頻及毫米波

設計驗證

失效分析

晶圓級可靠度

Silicon Photonics

射頻及毫米波應用（RF & mmW）

射頻及毫米波應用（RF & mmW )

旺矽釋義

晶圓級射頻及毫米波（RF & mmW）特性描述是射頻及毫米波積體電路開發、設計除錯，以及高效能半導體元件建模的關鍵部分。由於晶圓級 RF 測試儀器（如：向量網路分析儀、升頻器、阻抗調諧器、耦合器、Bias-Ts 及許多其他系統元件）之架設整合具高複雜性及需求特殊性，旺矽特為此應用量測的精準度，投入相當多心力。

Wafer level RF and mmW characterization | RF and microwave IC’s development

Trendsetting Methodologies for Wafer-Level RF Measurements

量測需求

射頻量測需求主要涵蓋 RF 功率及 RF 雜訊特性描述之大小訊號量測、S 參數、訊號源、負載拉移阻抗匹配等。這些應用皆挑戰探針台系統的機械穩定性、最短傳輸路徑、量測最佳方向性、長時間於不同類型金屬待測物上重複且高一致性的點測能力、以及是否可精準校正至待測物端之能力。

旺矽解決方案

旺矽穩固的工程探針台系統，是您在射頻及毫米波量測應用的最佳選擇。精巧的底座尺寸完全符合 RF 功率及雜訊特性描述系統的整合需求。精密且無後座力的 RF 微定位器（MicroPositioners），提供準確定位 RF 探針的能力。

精密設計的 TS150-THZ 探針台系統搭配高端毫米波 MP80 微定位器（MicroPositioner）、以及兼具高倍率及長工作距離的 MPI SZ10 或 MZ12 光學顯微鏡，盡可能地縮短了毫米波/次毫米波網路分析儀升頻器與待測物之間的距離，除實現最短訊號傳輸路徑，更確保最佳的量測方向性及精準度。

旺矽 TITAN™ 射頻探針系列，採專利的探針葉片設計及微機電製程製造，提供優異可視角、低接觸電阻，甚至在較難探測之鋁材上亦能展現極高的接觸一致性。

領先業界的校正軟體 QAlibria^® 及經過驗證之校正件（Calibration Substrates），實現業界標準及先進的校正方法，提供 RF 計量校正的解決方案。