光感測元件測試方案

 

使用VCSEL光電元件的光感測技術正逐漸被使用於眾多消費者(臉部辨識、手勢感測、擴增實境)及汽車感測(LIDAR、車內監控)等領域應用。MPI提供全面的測試及量測解決方案以滿足VCSEL光學感測市場的測試需求。

 

MPI wafer/chip probers for VCSEL and Laser Diode testing

MPI提供一系列光感測元件測試解決方案, 高度適用於生產和工程環境的需求。並能滿足客戶對關鍵測試和後段處理的需求:

    • 參數量測
    • 測試物料傳送
    • AVI光學檢測
    • 晶圓級可靠性測試(WLBI)

MPI的光感測元件測試解決方案, 可因應不同類型的VCSEL進行測試

    • 上發光型VCSEL
    • 背發光型VCSEL(Flip Chip)
    • 晶圓級、晶粒級、及封裝階段

MPI核心技術

 

光電流電壓 (LIV) 測試是一種基本的光學測量手法,用於確認雷射二極體(LD)及VCSEL等元件特性。

MPI專精於儀器整合, 以提供準確且同步的脈衝 (mS至nS) 和連續波 (CW) 模式下的功率和電壓測量。

    1. 具有高速奈秒級測試儀器能力
    2. 光機電整合, 及溫度控制能力, 以減小元件熱效應、接觸電阻和寄生效應的影響
    3. 使用積分球進行高速光學測量,適用於低功率和高功率VCSEL
10µs脈衝寬度
10µs~500µs脈衝寬度

高速脈衝光學量測

    • 雷射二極體驅動器整合,用於LiDAR / Time of Flight (TOF) 應用
    • MPI的高頻探針卡技術實現高保真度的電流刺激控制
    • 同步的電學/光學測量和數據捕獲
    • 交錯式電流脈衝生成,增強高通量測試

光譜量測

於廣泛的溫度範圍內進行光譜測量和分析

光譜量測
-40° ~ 125°測試能力
雷射的光電特性量測及評估

雷射特性量測

雷射的光電特性量測及評估

MPI優勢

 

對於有大量生產製造、開發和測試雷射二極體的客戶,MPI提供卓越的光學專業知識和系統整合能力

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      • 高精度的測試和測量結果

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      • 高品質的自動化點測能力

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      • 積極及全面的服務支援, 能確保設備作動期間維持最高運轉能量

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      • 全方位的光機電整合及量測能力

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      • 以客戶為中心,根據您的需求提供最適合的解決方案

探索MPI PA的光電量測技術應用

 

MPI PA 設計及打造一系列點測,分選, 以及AVI檢測的完整解決方案, 廣泛應用於光電, 半導體, 及雷射產業,

我們致力於淬鍊技術及品質優化, 不停地追求光電元件量測關鍵技術的發展及突破, 以帶給客戶最佳量測體驗為使命.

Optical Communications

光通訊

提供光學元件如光電二極體(PD)及雷射二極體(LD)精確的量測解決方案

Optical Sensing

光感測

3D感測, 臉部辨識感測, 手勢辨識感測, AR, 車用光學雷達(LiDAR)應用量測技術

Micro Display

微型顯示

針對Mini LED/ Micro LED應用, 提供最適化的點測架構結合巨量轉移know-how

LED

發光二極體(LED)

從LED的晶圓到封裝階段, 提供最完整的光學量測,挑揀,及檢測解決方案

Silicon Photonics

矽光子學

專門設計在矽光子學晶片上測試, 進行可重複的低噪音測量

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