感測雷射測試
與量測
STARGAZER LD200-S
資料通訊雷射測試
與量測
STARGAZER LD200-D
光電二極體 (PD) 測試
與量測
STARGAZER PD200
Micro LED測試
與量測
STARGAZER MT200
STARGAZER 光電元件測試解決方案
無縫整合,充分發揮測試潛力
透過 STARGAZER 系列光電測試系統,幫助您充分發揮測試潛力。STARGAZER 基於模組化軟體架構設計,能夠輕鬆配置並無縫整合,以滿足您特定的測試需求。
STARGAZER 支援多種光電元件測試,從感測雷射、資料通訊雷射到光電二極體、Micro LED 等應用,系統架構高度靈活並可與業界領先合作夥伴的高品質量測儀器整合,確保測試的精確度和高效能。
使用 STARGAZER 簡化並優化測試流程。讓您在日常工作中,每天都獲得可靠且精確的結果。立即啟用 STARGAZER,讓您的測試邁向全新高度。
主要特點
序列控制
靈活選擇與編輯測試序列與參數
生產報告
透過直覺易懂的軟體介面,輕鬆管理實驗室/生產 Recipe
Recipe管理
即時呈現 DUT 特性量測結果,及產出完整的晶圓量測報告
無縫整合
與市面上知名的量測儀器供應商保持長期合作關係,提供高度可靠的量測儀器整合方案,以滿足您的測試需求。
STARGAZER 產品型號一覽
選擇最適合您需求的 STARGAZER 型號與配置。我們的解決方案將 MPI 的軟硬體無縫整合,搭配市面上主流的第三方量測儀器,為您提供簡便操作且一致的使用體驗。
主要特點 | 描述 |
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感測雷射測試與量測
STARGAZER LD200-S
主要特點 |
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電流控制 即時電流與電壓測量 SMU、功率計及驅動 IC 的整合 |
光譜測量 精確的光譜測量 光譜分析儀或分光計之整合 |
近場光型 (NFP) / M2 特性評估 具備寬廣視野的近場光學物鏡 用於評估 NFP 光束品質的分析工具 |
遠場光型 (FFP) 特性評估 支援可見光、近紅外和紅外光範圍的遠場光學物鏡 用於評估 FFP 光束品質的分析工具 |
資料通訊雷射測試與量測
STARGAZER LD200-D
主要特點 |
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電流 / 偏壓控制 SMU 與功率計的整合 |
LIV / 光譜測量 使用儀表進行電流 / 電壓測量 光譜分析儀或分光計之整合 |
近場光型 (NFP) / 遠場光型 (FFP) 特性評估 近場 / 遠場光學量測系統整合 用於計算光束品質的分析工具 |
高速元件特性評估 使用 RF 探針及光學 VNA 進行 S 參數特性測量 支援相對強度噪聲 (RIN) 和位元錯誤率 (BER) 測試的儀器整合 |
光電二極體 (PD) 測試與量測
STARGAZER PD200
主要特點 |
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IV Sweeping 暗電流 / 光電流測量 整合 SMU 進行單顆 / 多顆 DUT 測試 |
響應度 光源控制 / 光開關 / 衰減器控制 |
電容 LCR 測量整合 |
高速元件特性評估 使用 RF 探針及光學 VNA 進行 S 參數特性測量 支援相對強度噪聲 (RIN) 和位元錯誤率 (BER) 測試的儀器整合 |
Micro LED 測試與量測
STARGAZER MT200
主要特點 |
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電流控制 整合 SMU 與 Display Driver,進行精確的測量控制 |
顏色及圖形解析 整合分光計、色度計與錐光鏡 |
均勻性 用於解析亮度與均勻性的工具 |
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