MPI PA | Micro LED 量測| 微型顯示點測及應用

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新世代的Micro LED (µLED) 技術為顯示產業帶來革命性的光學技術突破, 與其他發光元件相比, µLED集結高亮度, 更長的發光壽命, 反應時間快等特性, 因而在消費電子產品 /顯示模組 /車用照明及顯示等產業應用嶄露無限潛能.

運用多年在光電元件量測領域的耕耘及聆聽客戶需求的經驗積累, MPI GEMINI 點測設備系列, 提供快速, 高效, 精準的測試方案, 協助您攻克量測Micro LED的各種挑戰.

透過結合高度精準的點測平台, 全面整合的控制軟體, 及精密調校的定位器, 可實現優越的量測對齊機制精準度.
針對微米(μm)等級的Micro LED晶粒, 提供高度精確的量測能力:
- 恰到好處的針壓控制
- 精確的溫度環境控制
- 針對不同測試環境, 提供對應防震方案
- 精密的點測動作微調及補償機制
整合運用MPI探針卡及微位移操縱器(Micro Positioner)點測技術, 可達成高度可靠的Micro LED背板特性測量.
- 針對複雜的光學元件結構, 也能提供良好的光學量測路徑規劃能力
- 彈性的點測時序控制
MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:

彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量.

GEMINI 系列