AVIOR 系列

完整的高性能點測設備系列, 用於光通訊元件如雷射二極體,
光感測器, 及其他整合元件量測應用

avior series slider 1 overview
avior series slider 2 tp
avior series slider 3 fp
avior series slider 4 dp
AVIOR-Series-Slider-1-Overview
AVIOR-Series-Slider-2-TP
AVIOR-Series-Slider-3-FP
AVIOR-Series-Slider-4-DP

AVIOR 系列點測設備概覽

AVIOR系列機種為MPI專門針對光通訊元件應用所開發的產品線, 因應不同測試需求, 本系列提供頂部發光(Top Probing), 背部發光(Flip-chip Probing), 及晶粒/封裝(DP)等多種點測架構. 旺矽科技經由多年在光電量測領域所累積的深厚經驗及技術, 可同時提高產品可靠性並最小化生產成本, 提供客戶從研發到量產階段最完整而全面的支援.

產業應用

Optical Com.

光通訊

AVIOR TP點測設備系列主要特色

  • 靈活的架構配置可支援2”~8”晶圓點測, 並可彈性搭配對應配件如載台系統及點測機制.
  • 高度精確的光電(DC/RF/Pulsed)測試.
  • 彈性的點測機制如Probe Card Holder (PCH), Wedge Probe Card, 及MPI F1探針模組等搭配可供選擇.
  • 精準的打光/視覺架構結合可彈性調整的測試程序, 可彈性對應客戶需求搭配.
  • MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
  • MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:

彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量.

能力

Multiple Probing Mechanisms

多種點測介面

Max. 8” Wafer Handling

最大支援8”晶圓

機型

Semi Auto

半自動

Fully Auto

全自動

待測物

VCSEL

VCSEL

PD

PD

AVIOR FP點測設備系列主要特色

  • 支援多種探針點測介面如Probe Card Holder (PCH), Wedge Probe Card, 及MPI F1探針模組.
  • 精準的打光/視覺架構結合可彈性調整的測試程序, 可彈性對應客戶需求搭配.
  • 提供多種點測模式及進出料選擇:
    支援上點測下收光, 或同時點測功能.
  • MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
  • MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:

彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量.

能力

Multiple Probing Mechanisms

多種點測介面

Max. 8” Wafer Handling

最大支援8”晶圓

機型

Semi Auto

半自動

Fully Auto

全自動

待測物

VCSEL

VCSEL

PD

PD

AVIOR DP點測設備系列主要特色

  • 多樣化的機種架構, 支援多種物料測試形式如VCSELs, EELs, 或封裝級元件測試.
  • 飛快的點測及挑揀速度能大幅降低量測費用.
  • 優化的進出點測平台設計能支援多種進出料模式.
  • 機台具備精準溫控能力, 不論是高低溫或負溫量測皆可輕鬆對應.
  • 多重量測站點, 可依據測試需求隨意切換量測參數如LIV / 近場 / 遠場等.

能力

Multiple Probing Mechanisms

多種點測介面

Max. 8” Wafer Handling

最大支援8”晶圓

機型

Fully Auto

全自動

待測物

VCSEL

VCSEL

EEL

EEL

PD

PD

更多資訊

對MPI PA的產品感興趣, 想尋求更多資訊嗎?
歡迎點擊以下按鈕與我們聯繫

或直接Email至 pa-sales@mpi-corporation.com

MPI專員將會儘速回覆, 謝謝!

需要協助或有任何問題嗎?