AVIOR 系列
完整的高性能點測設備系列, 用於光通訊元件如雷射二極體,
光感測器, 及其他整合元件量測應用
AVIOR 系列點測設備概覽
AVIOR系列機種為MPI專門針對光通訊元件應用所開發的產品線, 因應不同測試需求, 本系列提供頂部發光(Top Probing), 背部發光(Flip-chip Probing), 及晶粒/封裝(DP)等多種點測架構. 旺矽科技經由多年在光電量測領域所累積的深厚經驗及技術, 可同時提高產品可靠性並最小化生產成本, 提供客戶從研發到量產階段最完整而全面的支援.
產業應用
光通訊
AVIOR TP點測設備系列主要特色
- 靈活的架構配置可支援2”~8”晶圓點測, 並可彈性搭配對應配件如載台系統及點測機制.
- 高度精確的光電(DC/RF/Pulsed)測試.
- 彈性的點測機制如Probe Card Holder (PCH), Wedge Probe Card, 及MPI F1探針模組等搭配可供選擇.
- 精準的打光/視覺架構結合可彈性調整的測試程序, 可彈性對應客戶需求搭配.
- MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
- MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:
彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量.
能力
多種點測介面
最大支援8”晶圓
機型
半自動
全自動
待測物
VCSEL
PD
AVIOR FP點測設備系列主要特色
- 支援多種探針點測介面如Probe Card Holder (PCH), Wedge Probe Card, 及MPI F1探針模組.
- 精準的打光/視覺架構結合可彈性調整的測試程序, 可彈性對應客戶需求搭配.
- 提供多種點測模式及進出料選擇:
支援上點測下收光, 或同時點測功能. - MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
- MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:
彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量.
能力
多種點測介面
最大支援8”晶圓
機型
半自動
全自動
待測物
VCSEL
PD
AVIOR DP點測設備系列主要特色
- 多樣化的機種架構, 支援多種物料測試形式如VCSELs, EELs, 或封裝級元件測試.
- 飛快的點測及挑揀速度能大幅降低量測費用.
- 優化的進出點測平台設計能支援多種進出料模式.
- 機台具備精準溫控能力, 不論是高低溫或負溫量測皆可輕鬆對應.
- 多重量測站點, 可依據測試需求隨意切換量測參數如LIV / 近場 / 遠場等.
能力
多種點測介面
最大支援8”晶圓
機型
全自動
待測物
VCSEL
EEL
PD
更多資訊
需要協助或有任何問題嗎?