MPI PA | VCSEL/Laser 點測方案

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MPI的VEGA系列點測設備, 專為對應光感測市場的雷射二極體(Laser Diode, 如VCSEL及EEL)元件, 及其他光電模組測試用途量身打造.

VEGA系列機種具備靈活的點測系統架構(晶圓, 封裝, 或單顆晶粒), 能提供精準的量測數據, 多種點測機制選擇結合恰到好處的針壓設計, 良好的溫度控制, 以及優越的薄/翹曲晶圓處理能力, 讓您能輕鬆地進行晶圓上雷射元件各種關鍵特性測試如LIV, 遠場(Far Field),及近場(Near Field).

最大化點測環境溫度支援(-40˚ to +200˚C).
高效Loader系統可彈性對應多樣的待測元件如薄/翹曲晶圓, 一般晶圓, 基板, 封裝或其他元件.
多種收光架構可依照您的測試需求(LIV / 近場 / 遠場)選擇.
彈性的點測機制如Probe Card Holder (PCH), Wedge Probe Card, MPI F1探針模組等搭配, 可實現高度準確的量測結果.
MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
MPI 光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:

彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下, 也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量.

彈性的點測機制如VPC, Probe Card Holder (PCH), Wedge Probe Card, MPI F1探針模組等搭配, 可實現高度準確的量測結果.
彈性的系統架構可依照您的測試需求(LIV / 近場 / 遠場)選擇多種收光模組.
提供多種點測模式及進出料選擇:
支援上點測下收光, 或同時點測功能.
MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:

彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量.

VEGA 系列