MPI PA | LED 測試 | Mini LED 點測設備

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MPI Photonics Automation致力於提供LED / Mini LED 一站式量測解決方案, 在全球已累積超過一萬台的裝機實例, 足見其點測設備具備可經長時間測試的高性能及高可靠性.

CAPELLA系列點測設備具備靈活的系統結構, 從晶圓段到封裝段測試, 皆可全面支援各種LED產品類型量測(水平型, 垂直型, 覆晶倒裝型). 從實驗室到生產各個環節, 不論是進階高效能, 具成本效益, 或是特殊需求的客製機種, MPI自主研發的各式點測設備皆能滿足您的需求.

最具成本效益的精確生產量測能力.
多站點測試能力搭配high pin count探針卡針測技術(4~256 channels) 可大幅提高產能.
完整的統計報告及分析工具, 用於測量LED光電特性如color chromaticity (xyz), intensity, irradiance等.
模組化的系統架構設計能提供半自動, 全自動, 或高度整合的叢集點測設備系統, 不論是實驗室研究開發, 或是量產用途, 皆能因應客戶需求設計建置.
MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:

彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量, 達成高度精準的整合測試.

最具成本效益的精確生產量測方案.
多站點測試能力搭配high pin count探針卡針測技術(4~256 channels) 可大幅提高產能.
完整的統計報告及分析工具, 用於測量LED光電特性如color chromaticity (xyz), intensity, irradiance等.
模組化的系統架構設計能提供半自動, 全自動, 或高度整合的叢集點測設備系統, 不論是實驗室研究開發, 或是量產用途, 皆能因應客戶需求設計建置.
MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:

CAPELLA 系列