CAPELLA 系列
從晶圓級到封裝段, 提供LED / Mini LED 一站式量測解決方案
![capella series slider 1 overview](http://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/slider19/capella-series-slider-1-overview.jpeg)
![capella series slider 2 tp](http://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/slider19/capella-series-slider-2-tp.jpeg)
![capella series slider 3 fp](http://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/slider19/capella-series-slider-3-fp.jpeg)
![capella series slider 4 dp](http://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/slider19/capella-series-slider-4-dp.jpeg)
![capella series slider 5 application](http://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/slider19/capella-series-slider-5-application.jpeg)
CAPELLA 系列點測設備概覽
MPI Photonics Automation致力於提供LED / Mini LED 一站式量測解決方案, 在全球已累積超過一萬台的裝機實例, 足見其點測設備具備可經長時間測試的高性能及高可靠性.
CAPELLA系列點測設備具備靈活的系統結構, 從晶圓段到封裝段測試, 皆可全面支援各種LED產品類型量測(水平型, 垂直型, 覆晶倒裝型). 從實驗室到生產各個環節, 不論是進階高效能, 具成本效益, 或是特殊需求的客製機種, MPI自主研發的各式點測設備皆能滿足您的需求.
產業應用
![General Lighting General Lighting](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Markets-Served-Icon-General-Lighting.png)
一般照明
![Medical & Health Medical & Health](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Markets-Served-Icon-Medical-Health.png)
醫療與健康
![Outdoor Display Outdoor Display](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Markets-Served-Icon-Outdoor-Display.png)
戶外顯示
![Automotive Lighting Automotive Lighting](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Markets-Served-Icon-Automotive-Lighting.png)
車用照明
![Backlighting Backlighting](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Markets-Served-Icon-Backlighting.png)
背光模組
CAPELLA TP點測設備系列主要特色
- 最具成本效益的精確生產量測能力.
- 多站點測試能力搭配high pin count探針卡針測技術(4~256 channels) 可大幅提高產能.
- 完整的統計報告及分析工具, 用於測量LED光電特性如color chromaticity (xyz), intensity, irradiance等.
- 模組化的系統架構設計能提供半自動, 全自動, 或高度整合的叢集點測設備系統, 不論是實驗室研究開發, 或是量產用途, 皆能因應客戶需求設計建置.
- MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
- MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:
彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量, 達成高度精準的整合測試.
能力
![Cost Effective Cost Effective](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-Cost-Effective.png)
高成本效益
![Multi-site Test Multi-site Test](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-Multi-site-Test.png)
多站測試
![Chromaticity Chromaticity](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-Chromaticity.png)
Chromaticity
機型
![Semi Auto Semi Auto](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Configuration-Icon-Semi-Automation-1.png)
半自動
![Fully Auto Fully Auto](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Configuration-Icon-Fully-Automation-1.png)
全自動
待測物
![LED LED](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/DUT-Icon-LED.png)
LED
CAPELLA FP點測設備系列主要特色
- 最具成本效益的精確生產量測方案.
- 多站點測試能力搭配high pin count探針卡針測技術(4~256 channels) 可大幅提高產能.
- 完整的統計報告及分析工具, 用於測量LED光電特性如color chromaticity (xyz), intensity, irradiance等.
- 模組化的系統架構設計能提供半自動, 全自動, 或高度整合的叢集點測設備系統, 不論是實驗室研究開發, 或是量產用途, 皆能因應客戶需求設計建置.
- MPI 高效能的點測設備控制軟體提供全面的控制功能 - 從基本的晶圓對齊, 圖布定位, 針痕檢測及運用進階的MPI獨特精細對針機制 (Needle Alignment Mechanism).
- MPI光電量測系統採用以使用者視角為出發點設計的介面布局, 操作直覺並能依照您的測試需求任意調整設定:
彈性編輯: 因應您的測試需求,任意進行測試參數/條件/及時序控制之設定調整.
生產控管: 即時可視化介面, 讓您隨時掌握系統狀態資訊. 透過直覺的使用介面, 輕鬆管理實驗室研究資料或工廠生產數據. 系統全面無死角監控量測任務進度, 在無人干預的情況下也能確保測試程序順利進行.
無縫整合: 系統可支援並控制市場大多數主流測試儀器, 我們將為您搭配最適化的儀器進行測量, 達成高度精準的整合測試.
能力
![Cost Effective Cost Effective](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-Cost-Effective.png)
高成本效益
![Multi-site Test Multi-site Test](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-Multi-site-Test.png)
多點測試
![Chromaticity Chromaticity](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-Chromaticity.png)
Chromaticity
機型
![Semi Auto Semi Auto](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Configuration-Icon-Semi-Automation-1.png)
半自動
![Fully Auto Fully Auto](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Configuration-Icon-Fully-Automation-1.png)
全自動
待測物
![LED LED](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/DUT-Icon-LED.png)
LED
![Mini LED Mini LED](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/DUT-Icon-MiniLED.png)
Mini LED
CAPELLA DP點測設備系列主要特色
- 用於封裝LED產品的準確量測.
- 絕佳的測試準確度:
- 待測產品與積分球間距極小, 可確保收光品質
- Dice off-set 補償校正功能 - 精準且穩定的溫度控制能力並可依據量測需求搭配對應溫度載台.
- 精密並可調整的取放力量(5g~200g).
- 全覆式暗箱板金設計可完整屏蔽外部環境干擾.
- 進階的晶粒瑕疵檢查手法.
能力
![High Temp. High Temp.](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-High-Tempurature.png)
高溫測試
![CSP Probing CSP Probing](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-CSP-Probing.png)
CSP量測
![Test Accuracy Test Accuracy](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-Test-Accuracy.png)
精確量測
![Cost Effective Cost Effective](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Capability-Icon-Cost-Effective.png)
高成本效益
機型
![Fully Auto Fully Auto](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/Configuration-Icon-Fully-Automation-1.png)
半自動
待測物
![LED LED](https://www.mpi.com.tw/wp-content/uploads/2023/02/DUT-Icon-LED.png)
LED
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