



感測雷射測試
與量測
STARGAZER LD200-S
資料通訊雷射測試
與量測
STARGAZER LD200-D
光電二極體 (PD) 測試
與量測
STARGAZER PD200
Micro LED測試
與量測
STARGAZER MT200
STARGAZER 光電元件測試解決方案
無縫整合,充分發揮測試潛力

透過 STARGAZER 系列光電測試系統,幫助您充分發揮測試潛力。STARGAZER 基於模組化軟體架構設計,能夠輕鬆配置並無縫整合,以滿足您特定的測試需求。
STARGAZER 支援多種光電元件測試,從感測雷射、資料通訊雷射到光電二極體、Micro LED 等應用,系統架構高度靈活並可與業界領先合作夥伴的高品質量測儀器整合,確保測試的精確度和高效能。
使用 STARGAZER 簡化並優化測試流程。讓您在日常工作中,每天都獲得可靠且精確的結果。立即啟用 STARGAZER,讓您的測試邁向全新高度。

主要特點
序列控制
靈活選擇與編輯測試序列與參數
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生產報告
透過直覺易懂的軟體介面,輕鬆管理實驗室/生產 Recipe
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Recipe管理
即時呈現 DUT 特性量測結果,及產出完整的晶圓量測報告
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無縫整合
與市面上知名的量測儀器供應商保持長期合作關係,提供高度可靠的量測儀器整合方案,以滿足您的測試需求。
STARGAZER 產品型號一覽
選擇最適合您需求的 STARGAZER 型號與配置。我們的解決方案將 MPI 的軟硬體無縫整合,搭配市面上主流的第三方量測儀器,為您提供簡便操作且一致的使用體驗。




| 主要特點 | 描述 |
|---|---|
感測雷射測試與量測
STARGAZER LD200-S
| 主要特點 |
|---|
|
電流控制
即時電流與電壓測量
SMU、功率計及驅動 IC 的整合 |
|
光譜測量
精確的光譜測量
光譜分析儀或分光計之整合 |
|
近場光型 (NFP) / M2 特性評估
具備寬廣視野的近場光學物鏡
用於評估 NFP 光束品質的分析工具 |
|
遠場光型 (FFP) 特性評估
支援可見光、近紅外和紅外光範圍的遠場光學物鏡
用於評估 FFP 光束品質的分析工具 |
資料通訊雷射測試與量測
STARGAZER LD200-D
| 主要特點 |
|---|
|
電流 / 偏壓控制
SMU 與功率計的整合 |
|
LIV / 光譜測量
使用儀表進行電流 / 電壓測量
光譜分析儀或分光計之整合 |
|
近場光型 (NFP) / 遠場光型 (FFP) 特性評估
近場 / 遠場光學量測系統整合
用於計算光束品質的分析工具 |
|
高速元件特性評估
使用 RF 探針及光學 VNA 進行 S 參數特性測量
支援相對強度噪聲 (RIN) 和位元錯誤率 (BER) 測試的儀器整合 |
光電二極體 (PD) 測試與量測
STARGAZER PD200
| 主要特點 |
|---|
|
IV Sweeping
暗電流 / 光電流測量
整合 SMU 進行單顆 / 多顆 DUT 測試 |
|
響應度
光源控制 / 光開關 / 衰減器控制 |
|
電容
LCR 測量整合 |
|
高速元件特性評估
使用 RF 探針及光學 VNA 進行 S 參數特性測量
支援相對強度噪聲 (RIN) 和位元錯誤率 (BER) 測試的儀器整合 |
Micro LED 測試與量測
STARGAZER MT200
| 主要特點 |
|---|
|
電流控制
整合 SMU 與 Display Driver,進行精確的測量控制 |
|
顏色及圖形解析
整合分光計、色度計與錐光鏡 |
|
均勻性
用於解析亮度與均勻性的工具 |
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