先進半導體與光電特性分析論壇

旺矽科技 將於先進半導體與光電特性分析論壇發表技術演講

旺矽科技 將於 2026 年 9 月 10 日參加在美國新墨西哥州阿布奎克（Albuquerque）舉行的 Advanced Semiconductor & Photonics Characterization Forum（先進半導體與光電特性分析論壇）。
本次全天論壇將透過技術演講與現場實機展示，深入探討 RF、光電、量子材料，以及先進半導體特性分析與測試等主題。
本論壇由 Microsanj、Keysight Technologies、MPI Corporation、Focus Microwaves 及 Gel-Pak 共同舉辦，整合各領域專業技術，涵蓋 RF、微波、光電，以及熱特性測試與量測等應用。

 

MPI技術演講

9:30｜從研發到高量產（HVM）：電光元件的測試技術
Lawrence Vandervegt | MPI AST
Lawrence 將分享電光元件測試如何從早期研發階段逐步發展至高量產（HVM），探討探針與測試基礎設備、測試自動化，以及良率學習等方面不斷變化的需求。
他也將分享 MPI 對新墨西哥州日益成長的光電與量子運算產業生態系的觀察與看法。

10:05｜確保 RF 量測的準確度與可靠度：大信號、DC 測試與雜訊參數的最新進展
Sajjad Ahmed｜Focus Microwaves
Sajjad 將探討 5G 與 6G 技術的發展，以及其對 RF 量測技術所帶來的影響，涵蓋晶圓上特性量測的挑戰、校準方法、探針技術的進步，以及電晶體的小信號與大信號分析，尤其是非 50 Ω 元件的量測需求。
此外，也將分享市場對**訊號完整性（Signal Integrity）**與 LNA（低雜訊放大器）效能日益提高的要求。

 

  • 展覽日期: 2026年9月10日（星期四）
  • 展覽時間: 上午 9:00 – 下午 4:00（Mountain Time, MT）
  • 展覽地點: Nuclear Science & History Museum，美國新墨西哥州阿布奎克
  • 參與部門: Advanced Semiconductor Test | Focus Microwaves

 

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誠摯邀請您參加這場技術論壇，與業界工程師及專家交流，深入了解最新技術趨勢、現場展示與半導體測試及量測應用。

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Advanced Semiconductor & Photonics Characterization Forum – Microsanj

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