106th ARFTG
第106屆ARFTG 微波量測研討會
第106屆ARFTG 微波量測研討會是一個領先的國際論壇，聚焦於先進的 RF、微波、毫米波及次太赫茲量測技術，匯集來自學術界與產業界的專家，共同交流通訊、感測及新興技術應用方面的最新研究與前沿洞見。
- 展覽日期: 2026年1月18-21日
- 展覽地點: 美國加州好萊塢洛伊斯飯店
- 參與部門: Advanced Semiconductor Test
第106屆ARFTG 微波量測研討會是一個領先的國際論壇，聚焦於先進的 RF、微波、毫米波及次太赫茲量測技術，匯集來自學術界與產業界的專家，共同交流通訊、感測及新興技術應用方面的最新研究與前沿洞見。