Introducing
TITAN™ T250MAK & T250MSK Probes
DC-250 GHz Broadband Probing Solutions for Next-Gen RF,
mmWave, and High-Speed Digital.
優化晶圓測試
先進的全面性高效率探針卡解決方案
先進晶圓 / 光電元件自動化檢測和視檢技術
專為光電, 雷射, 及LED產業
全方位打造量測方案
先進半導體測試解決方案
工程用探針台系統
射頻探針
ThermalAir系列溫度測試設備
環境溫度模擬試驗箱(Test Chambers)
快速溫度循環測試
溫度範圍-80°C至+225°C – 高效節能
Ultra-High Performance Probe Card
With the Lowest Cost of Ownership
Delivering Extreme Test Capabilities
SEMICON TAIWAN 2025 國際半導體展
Probe Card | Photonics Automation |
Advanced Semiconductor Test | Thermal
展覽
日期: 2025年9月10 - 12日
攤位號碼: K2476
地點: 台北南港展覽館1館
IS-Test – Workshop – ITWS
Probe Card
論壇
日期: 2025年9月15 - 16日
地點: 德國慕尼黑機場萬豪酒店
EuMW 2025 歐洲微波週
Advanced Semiconductor Test | Thermal
展覽
日期: 2025年9月23 - 25日
攤位號碼: E046
地點: 荷蘭烏特勒支 Jaarbeurs 會議中心
ECOC 2025 歐洲光通信會議暨展覽
Advanced Semiconductor Test
展覽
日期: 2025年9月29日 - 10月1日
攤位號碼: C1306
地點: 丹麥哥本哈根 Bella Center
旺矽科技先進半導體測試部門與是德科技攜手合作，成為是德科技解決方案合作夥伴
Advanced Semiconductor Test
News
新竹2024年3月11日 — 半導體測試解決方案的全球領導者旺矽科技股份有限公司 (MPI Corporation) 欣然宣布與全球創新合作夥伴是德科技 (Keysight Technologies) 建立具里程碑意義的合作夥伴關係。是德科技致力於提供市場領先的設計、模擬和測試解決方案，幫助工程師加快產品的開發和部署。此次合作標誌著旺矽科技先進半導體測試 (AST) 部門的...
旺矽科技先進半導體測試部門實現高達110 GHz的可追溯射頻校準突破
Advanced Semiconductor Test
News
德國布倫瑞克2024年1月25日 —作為晶圓級測試解決方案的先驅，旺矽科技股份有限公司 (MPI Corporation) 的先進半導體測試 (AST) 部門今天宣佈在射頻校準技術方面取得一項重大成果。該部門與德國聯邦物理技術研究院 (PTB) 合作，在表徵高達110 GHz的商用校正片方面成功實現了完全可追溯性。
MPI SENTIO® 和 QAlibria® 現已涵蓋四端口射頻系統自動校準
Advanced Semiconductor Test
News
新竹2022年12月13日 — MPI Corporation的 先進半導體測試部門 是半導體射頻測試解決方案的市場領導者及創新先鋒，該部門演示了無人值守的四端口射頻校準和量測，由 MPI 完全整合的射頻校準和探針台系統控制軟體套件——新版本的 QAlibria® and SENTIO® 支援。
TS2000-IFE Series – THZ Selection
Advanced Semiconductor Test
News
THZ-Selection converts the TS2000-IFE into a dedicated, RF, mmW, THZ and load-pull probe station, as first one on the market without compromising measurement directivity and accuracy at wide temperature range from -60°C to +300°C.
Celadon Multisite Tile-on-Card™ Production Probe Card
Celadon Systems
News
Functional Test, 200C, Production Probe Card
Celadon Cryogenic Minitile™
Celadon Systems
News
Cryogenic, 4K and 77K, Positioner Mounted, 22 pin Probe Card
Celadon VC20™, 45e™ Probe Card Adaptor, and Insertion Tool
Celadon Systems
News
Modular, -65C to 200C, 48 channel, probe card and adaptor, used for Modeling, Characterization, Parametric Test, and WLR testing
Celadon VC43™ and P9000 Production Parametric Probe Card
Celadon Systems
News
Modular, -65 to 200C, 100 channel, Probe Card
The Latest in mmWave and THz Test and Measurement Technology
Advanced Semiconductor Test
News
This eBook is a collection of articles on the various innovations in measurement methods and equipment that has been developed to address these higher frequencies ranging from mmWave up to 1.1 THz. (This eBook was published by Microwave Journal)