測試方案
旺矽於2008年開始提供光電測試的量測方案。搭配成熟的點測設備，旺矽多年來累積了充分的LED量產經驗，故我們的量測方案可以提供彈性化的生產參數管理，準確且穩定的量測與校正方法，以及有效的統計與量產分析方法。量測方案可依據客戶產品提供最佳的組成，包含各式光譜卡、PD感測器、電流源或是電性量測元件的整合。藉由對各儀器的量測的精準控制與計算分析，旺矽量測方案可廣泛的應用於各項光學元件的量測。
對於LED晶粒與封裝產品的量測，旺矽提供了 STARGAZER T200點測系統，此系統可應用在各式LED晶粒量測。針對各式光學產品的量測方案需求，歡迎連繫旺矽，我們可以提供您最佳的光學量測方案。
探索MPI PA的光電量測技術應用
MPI PA 設計及打造一系列點測,分選, 以及AVI檢測的完整解決方案, 廣泛應用於光電, 半導體, 及雷射產業,
我們致力於淬鍊技術及品質優化, 不停地追求光電元件量測關鍵技術的發展及突破, 以帶給客戶最佳量測體驗為使命.
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