MPI Cobra Probe Cards

Cobra Probe Card designed for mass production

MPI Cobra 探針卡的設計為一種廣為人知的極小間距可彎曲式探針技術,其設計可應用在早期的工程階段驗證,以及量產階段時,不同晶圓的測試,MPI的技術能力將提供您最可靠的測試結果以及絕佳的使用者經驗

Cobra Probe Cards

MPI Cobra 探針卡為不同的半導體測試市場提供有效以及可大量生產 (HVM) 的測試解決方案,先進的可彎曲式探針技術 – Cobra,廣泛適用於待測物的各種排列組合,如Full Array、Semi Array、Peripheral and Staggered … 等,請參閱 – Chip Pattern。同時MPI在下列 DUT Packages 部分,提供最具有競爭力的價格 :

  • Eutectic Bump
  • Lead-free Bump
  • Copper Pillar (Cu Pillar)
  • Capped Pillar
  • Aluminum Pad

此外,為了符合更高密度的 Flip Chip 封裝,MPI 垂直式探針卡能提供您更小 Pitch 的解決方案,以滿足您不同 DUT Packages 的需求

MPI Cobra探針卡具有高耐電流以及穩定的接觸品質等特點,並搭配最新技術的Space-Transformer,提供更佳的訊號完整性和電源完整性,適用於先進製程及產品,如SiPs/SoCs、晶圓級封裝 (WLP)、圖像處理器、微處理器、微控制器 … 等

因應半導體市場的及時性以及測試成本考量,MPI與全球頂尖廠商合作,提供您最快速的客製化服務,包括印刷電路板 (PCB)、Space Transformer (ST)、Substrate … 等,以滿足您設計上不同的需求

High Pin Count Cobra探針卡

High Pin Count
Cobra Probe Card

APU Cobra探針卡

APU Cobra Probe Card

Advanced Cobra探針卡

Advanced Cobra Probe Card