測試方案

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旺矽於2008年開始提供光電測試的量測方案。搭配成熟的點測設備,旺矽多年來累積了充分的LED量產經驗,故我們的量測方案可以提供彈性化的生產參數管理,準確且穩定的量測與校正方法,以及有效的統計與量產分析方法。量測方案可依據客戶產品提供最佳的組成,包含各式光譜卡、PD感測器、電流源或是電性量測元件的整合。藉由對各儀器的量測的精準控制與計算分析,旺矽量測方案可廣泛的應用於各項光學元件的量測。

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對於LED晶粒與封裝產品的量測,旺矽分別提供了 T200點測系統與T100點測系統,此兩系統可應用在各式LED晶粒量測。針對各式光學產品的量測方案需求,歡迎連繫旺矽,我們可以提供您最佳的光學量測方案。